服務(wù)項(xiàng)目
        IC真?zhèn)螜z測(cè)
        DPA檢測(cè)
        失效分析
        開發(fā)及功能驗(yàn)證
        材料分析
        可靠性驗(yàn)證
        電磁兼容(EMC)
        化學(xué)分析
        無損檢測(cè)
        標(biāo)簽檢測(cè)
        外觀檢測(cè)
        X-Ray檢測(cè)
        功能檢測(cè)
        破壞性檢測(cè)
        丙酮測(cè)試
        刮擦測(cè)試
        HCT測(cè)試
        開蓋測(cè)試
        增值服務(wù)
        烘烤
        編帶
        包裝與物流
        DPA檢測(cè)-三級(jí)
        外觀檢測(cè)
        X-Ray檢測(cè)
        功能檢測(cè)
        粒子碰撞噪聲檢測(cè)
        密封
        內(nèi)部水汽含量
        超聲波掃描(SAT檢測(cè))
        可焊性測(cè)試
        開蓋測(cè)試
        鍵合強(qiáng)度
        芯片剪切強(qiáng)度
        結(jié)構(gòu)
        非破壞分析
        3D數(shù)碼顯微鏡
        X-Ray檢測(cè)
        超聲波掃描(SAT檢測(cè))
        電性檢測(cè)
        半導(dǎo)體組件參數(shù)分析
        電特性測(cè)試
        點(diǎn)針信號(hào)量測(cè)
        靜電放電/過度電性應(yīng)力/閂鎖試驗(yàn)
        失效點(diǎn)定位
        砷化鎵銦微光顯微鏡
        激光束電阻異常偵測(cè)
        Thermal EMMI(InSb)
        破壞性物理分析
        開蓋測(cè)試
        芯片去層
        切片測(cè)試
        物性分析
        剖面/晶背研磨
        離子束剖面研磨(CP)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        工程樣品封裝服務(wù)
        晶圓劃片
        芯片打線/封裝
        競(jìng)爭(zhēng)力分析
        芯片結(jié)構(gòu)分析
        新產(chǎn)品開發(fā)測(cè)試(FT)
        FPGA開發(fā)
        單片機(jī)開發(fā)
        測(cè)試電路板設(shè)計(jì)/制作
        關(guān)鍵功能測(cè)試
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        功能檢測(cè)
        編程燒錄
        芯片電路修改
        芯片電路修改/點(diǎn)針墊偵錯(cuò)
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        穿透式電子顯微鏡(TEM)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        雙束聚焦離子束
        成分分析
        穿透式電子顯微鏡(TEM)
        掃描式電子顯微鏡(SEM)
        光譜能量分析儀
        光譜能量分析儀
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        板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證
        車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗(yàn)證
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        可靠度外形尺寸試驗(yàn)
        可靠度共面性試驗(yàn)
        環(huán)境類試驗(yàn)
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        芯片強(qiáng)度試驗(yàn)
        高應(yīng)變率-振動(dòng)試驗(yàn)
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        芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗(yàn)
        芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試
        三綜合(溫度、濕度、振動(dòng))
        四綜合(溫度、濕度、振動(dòng)、高度)
        自由跌落
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        腐蝕類試驗(yàn)
        氣體腐蝕
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        臭氧老化
        耐試劑試驗(yàn)
        IP防水/防塵試驗(yàn)
        IP防水等級(jí)(IP00~IP69K)
        冰水沖擊
        浸水試驗(yàn)
        JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測(cè)試
        IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
        電磁兼容(EMC)
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        電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試
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        阻燃性試驗(yàn)
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        檢測(cè)報(bào)告封面圖764x500.jpg
        創(chuàng)芯檢測(cè) | 六月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。本次對(duì)外公布為2025年6月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-08-08 16:47:00
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        創(chuàng)芯檢測(cè) | 五月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2025年5月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-06-16 16:56:18
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        創(chuàng)芯檢測(cè) | 四月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。本次對(duì)外公布為2025年4月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-05-16 14:19:00
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        創(chuàng)芯檢測(cè) | 三月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。本次對(duì)外公布為2025年3月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-04-24 16:02:00
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        檢測(cè)報(bào)告封面764x500.jpg
        創(chuàng)芯檢測(cè) | 二月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2025年2月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-03-21 14:51:00
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        創(chuàng)芯檢測(cè) | 一月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2025年1月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-02-21 15:23:49
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        十二月檢測(cè)報(bào)告
        創(chuàng)芯檢測(cè) | 十二月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。本次對(duì)外公布為2024年12月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-01-23 10:21:13
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        十一月檢測(cè)報(bào)告
        創(chuàng)芯檢測(cè) | 十一月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2024年11月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2025-01-22 13:11:26
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        檢測(cè)報(bào)告封面764x500
        創(chuàng)芯檢測(cè) | 十月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2024年10月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2024-11-19 16:23:00
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        創(chuàng)芯檢測(cè) | 九月元器件檢測(cè)異常分析報(bào)告

        為了使更多客戶了解異常物料信息,創(chuàng)芯檢測(cè)對(duì)外發(fā)布元器件異常品質(zhì)分析報(bào)告,希望能幫助您預(yù)警風(fēng)險(xiǎn),確保安心購(gòu)物,避免購(gòu)買不合格器件。 本次對(duì)外公布為2024年9月實(shí)驗(yàn)室所攔截的高風(fēng)險(xiǎn)及高危物料。

        2024-10-24 11:36:00
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